20874-2003 表面安装集成电路试验用插座通用规范
作者:标准资料网 时间:2024-04-28 02:37:51 浏览:8778
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 表面安装集成电路试验用插座通用规范 |
| 替代情况： | 废止时间为2005-02-23; |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 2005-02-23 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料
【英文标准名称】:SpecificationforPressureVesselPlates,AlloySteel,Quenched-andTempered-,Chromium-MolybdenumandChromium-Molybdenum-Vanadium
【原文标准名称】:压力容器用经回火和淬火的铬钼,铬钼钒及铬钼钒钛硼合金钢板规范
【标准号】:ANSI/ASTMA542/A542M-1999
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:压力容器;钢;板材
【英文主题词】:pressurevessels;boards;steels
【摘要】:
【中国标准分类号】:J74;H46
【国际标准分类号】:77_140_30
【页数】:
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 硅钡铝、硅钙钡和硅钙钡铝合金 铝、钡、铁、钙、锰、铜、铬、镍和磷含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 |
| 英文名称： | Silicon-barium-aluminum alloy silicon-calcium-barium alloy silicon-calcium-barium-aluminum alloy-Determination of aluminum barium ferrum calcium manganese copper chromium nickel phosphor content-Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric MD |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属化学分析方法 >>
钢铁与铁合金分析方法 |
| ICS分类： |
冶金 >>
铁合金
|
| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2010-11-22 |
| 实施日期： | 2011-03-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 归口单位： | 全国生铁及铁合金标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 济南钢铁集团公司 |
| 出版社： | 冶金工业出版社 |
| 出版日期： | 2011-03-01 |
适用范围
本规定了用电感耦合等离子体发射光谱法测定硅钡铝、硅钙钡和硅钙钡铝合金中铝、钡、铁、钙、锰、铜、铬、镍和磷含量的测量方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 冶金 金属化学分析方法 钢铁与铁合金分析方法 冶金 铁合金
