ANSI/TIA-455-197-2000 利用微分相移法进行单模元器件和装置的群时延差测量

作者:标准资料网 时间:2024-05-08 16:06:29  浏览:8426   来源:标准资料网

【英文标准名称】:DifferentialGroupDelayMeasurementofSingle-ModeComponentsandDevicesbytheDifferentialPhaseShiftMethod
【原文标准名称】:利用微分相移法进行单模元器件和装置的群时延差测量
【标准号】:ANSI/TIA-455-197-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量技术;玻璃纤维电缆;光电子学;阻尼(波);电信
【英文主题词】:Damping;Glassfibrecables;Measuringtechniques;Opticalwaveguides;Optoelectronics;Telecommunications
【摘要】:Describesaprocedureinwhichamodulatedlightsourceatagivenwavelengthiscoupledintothecomponentundertest,andthephaseofthemodulatedsignalexistingthefiberatafirstpolarizationstateiscomparedwiththephaseatasecond,orthogonalpolarizationstate.
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_20
【页数】:
【正文语种】:英语